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  • 纳米粒度及zeta电位仪 Nanotrac wave II

    纳米粒度测量——Z新动态光背散射技术随着颗粒粒径的减小,例如分子级别的大小,颗粒对光的散射效率急剧降低,使得经典动态光散射技术的自相关检测(PCS)变得更加不确定。40多年来,Microtrac公司一直致力于激光散射技术在颗粒粒度测量中的应用。

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  • Microtrac纳米粒度分析仪

    美国Microtrac公司的S3500系列激光粒度分析仪,原理上采用经典静态光散射技术和全程米氏理论处理,利用现代模块式设计理念,使用获得的三激光光源技术,配备超大角度双镜头检测系统,以对数方式排列151个高灵敏度检测单元,无需扫描,平行通道实时接受散射光信息,提供准确可靠的测量信息。多种分散方式可选,干法与湿法测量之间的转换,系统自动识别,方便快捷。

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  • PMX纳米颗粒追踪分析仪ZetaView QUATT

    ParticleMetrix致力于拓宽ZetaView纳米颗粒追踪分析仪经典型号PMX-120的应用领域,现已将PMX纳米颗粒追踪分析仪ZetaViewQUATT从单激光升级为四激光。488nm、520nm、640nm激发光可在散射模式和荧光模式间自动切换。无论在标准NTA或Z-NTA模式下纳米颗粒追踪分析仪均可记录颗粒在散射模式和荧光模式下的运动状态。

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  • 纳米颗粒跟踪分析仪ZetaView

    纳米颗粒跟踪分析仪ZetaView所具备的单一颗粒跟踪技术,结合经典微电泳技术和布朗运动成为现代的分析手段。自动校准和自动聚焦功能,让用户眼见为实,更加直观人性化。通过子体积的扫描,来自于数以千计的颗粒的zeta电位和粒径柱状图的结果就可以计算出来。此外,颗粒浓度也可以通过视频计数分析得到。

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  • 颗粒电位滴定及粒度分析仪

    通过使用stabino,可实现快速便捷的颗粒的电位滴定测试。

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